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本标准规定了用原子力显微术(Atomicforcemicroscopy,简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。
国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会
朱晓阳 杨延莲 高洁 何丹农 朱君 周素红 张迎
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