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【国家标准】电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法XRD法

标号:GB/T 36655-2018 状态: 定价:29元/折扣价: 24.65元

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标准简介

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量,其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5%定量分析。

基本信息

标准号:GB/T 36655-2018 标准名称:电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法XRD法 英文名称:Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method 标准状态: 发布日期:2025-05-20 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 提出部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T36655-2018

出版信息

页数:12 字数:12 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.030 中标分类号:L90

起草单位

国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司

起草人

封丽娟 李冰 陈进 夏永生 曹家凯 吕福发 阮建军 王松宪

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