欢迎您使用中国标准在线服务网
高级搜索

标准分类

当前位置:首页 > 国家标准

【国家标准】硅外延片

标号:GB/T 14139-2019 状态: 定价:29元/折扣价: 24.65元

开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!

查看详情

标准简介

本标准规定了硅外延片的牌号和分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。
本标准适用于在直径不大于150mm的N型和P型硅抛光片衬底上生长的硅外延片。

基本信息

标准号:GB/T 14139-2019 标准名称:硅外延片 英文名称:Silicon epitaxial wafers 标准状态: 发布日期:2025-06-04 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) 提出部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) 发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T14139-2019

出版信息

页数:12 字数:18 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:29.045 中标分类号:H82

起草单位

浙江金瑞泓科技股份有限公司、南京国盛电子有限公司、上海合晶硅材料有限公司、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司

起草人

张海英 李慎重 蒋玉龙 骆红 胡金枝 卢立延 李素青

相关标准

  • 推荐标准
  • 国家标准计划