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查看详情本标准规定了多光路光轴平行性的测试方法分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。
本标准适用于具有可见、红外成像系统和激光发射系统的多光路光电设备光轴平行性的测试。
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、长春理工大学、中国科学院微电子研究所、中国科学院光电研究院
叶露 沈湘衡 何静 张磊 周维虎 吴瑾 卢永红
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