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【国家标准】硅片字母数字标志规范

标号:GB/T 34479-2017 状态: 定价:31元/折扣价: 26.35元

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标准简介

本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范,包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。注:字母数字标志及关联信息存入数据库,可被简单的自动光学字符读数(OCR)仪或人工进行独立、快速识别,确保晶片制造商对晶片标记的一致性。

基本信息

标准号:GB/T 34479-2017 标准名称:硅片字母数字标志规范 英文名称:Specification for alphanumeric marking of silicon wafers 标准状态: 发布日期:2025-04-30 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2) 提出部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2) 发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T34479-2017

出版信息

页数:16 字数:22 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:29.045 中标分类号:H80

起草单位

有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心

起草人

张静 孙燕 边永智 楼春兰

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