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【国家标准】太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

标号:GB/T 37051-2018 状态: 定价:29元/折扣价: 24.65元

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标准简介

本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法,包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。
本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。

基本信息

标准号:GB/T 37051-2018 标准名称:太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 英文名称:Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer 标准状态: 发布日期:2025-05-12 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 提出部门: 发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T37051-2018

出版信息

页数:12 字数:14 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:29.045 中标分类号:H80

起草单位

英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司

起草人

李锋 李英叶 段青春 张伟 吴翠姑 冯亚彬 裴会川 程小娟 唐骏

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