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【国家标准】半导体集成电路快闪存储器测试方法

标号:GB/T 36477-2018 状态: 定价:38元/折扣价: 32.3元

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标准简介

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

基本信息

标准号:GB/T 36477-2018 标准名称:半导体集成电路快闪存储器测试方法 英文名称:Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory 标准状态: 发布日期:2025-05-18 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) 提出部门:中华人民共和国工业和信息化部 发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T36477-2018

出版信息

页数:20 字数:32 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.200 中标分类号:L56

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司

起草人

菅端端 陈大为 钟明琛 罗晓羽 冯光涛 倪昊 赵子鉴 董艺 田万廷 高硕 闵昊 刘刚

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