【国家标准】半导体器件机械和气候试验方法第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
标号:GB/T 4937.30-2018
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基本信息
标准号:GB/T 4937.30-2018
标准名称:半导体器件机械和气候试验方法第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
英文名称:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
标准状态:
发布日期:2025-05-20
实施日期:0
出版语种:中文简体
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
标准分类号
标准ICS号:31.080.01
中标分类号:L40
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院