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查看详情本标准规定了两种低电压试验,适用于搪瓷瓷层和金属基板缺陷的检测。
方法A是一种基于电学或电声学的快速测试方法,可基本确定缺陷位置,适用于平面试样的检测;方法B是一种基于颜色效应的光学测试方法,可精确确定缺陷位置,适用于较复杂形状试样的检测。
东华大学、国家眼镜玻璃搪瓷制品质量监督检验中心、上海市眼镜玻璃搪瓷产品质量监督检验站
徐晓健 戴琦 吴嘉许 王贺兰 张国琇 张尼尼 徐张倩 龚苗
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