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【国家标准】锗单晶位错密度的测试方法

标号:GB/T 5252-2020 状态: 定价:29元/折扣价: 24.65元

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标准简介

本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于{111}、{100}和{113}面锗单晶位错密度的测试,测试范围为0cm-2~100000cm-2。

基本信息

标准号:GB/T 5252-2020 标准名称:锗单晶位错密度的测试方法 英文名称:Test method for dislocation density of monocrystal germanium 标准状态: 发布日期:2025-06-26 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) 提出部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) 发布部门:国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T5252-2020

出版信息

页数:12 字数:16 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:77.040 中标分类号:H21

起草单位

有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司

起草人

张路 冯德伸 马会超 普世坤 姚康 刘新军 郭荣贵 向清华 韦圣林 黄洪伟文

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