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查看详情GB/T15972的本部分规定了测量光纤宏弯损耗的方法概述、装置、试样和试样制备、程序、计算和结果的技术要求。
本部分适用于测量B类单模光纤在1550nm或1625nm波长的宏弯损耗，A1类多模光纤在850nm或1300nm波长的宏弯损耗，以及A3类和A4类多模光纤在650nm、850nm或1300nm波长的宏弯损耗。
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