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【团体标准】微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

标号:T/CIE 152-2022 状态: 定价:36元/折扣价: 30.6元

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标准简介

本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序,包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。
本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。

基本信息

标准号:T/CIE 152-2022 标准名称:微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 英文名称:Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices 标准状态: 发布日期:2024-11-10 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:中国电子学会可靠性分会 提出部门:中国电子学会可靠性分会 发布部门:中国电子学会
标准标签: T/CIE152-2022

出版信息

页数:20 字数:33 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:19.020 中标分类号:L74

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国空间技术研究院、天津大学、武汉大学、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司

起草人

周帅 马凌志 邱宝军 罗宏伟 王小强 王斌 罗捷 罗军 林晓玲 武慧薇 崔华楠 马凯学 吴裕功 蔡念 常胜 温长清

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