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【团体标准】半导体器件可靠性强化试验方法

标号:T/CIE 144-2022 状态: 定价:31元/折扣价: 26.35元

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标准简介

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法,并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

基本信息

标准号:T/CIE 144-2022 标准名称:半导体器件可靠性强化试验方法 英文名称:Reliability enhancement test of semiconductor devices 标准状态: 发布日期:2024-11-10 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:中国电子学会可靠性分会 提出部门:中国电子学会可靠性分会 发布部门:中国电子学会
标准标签: T/CIE144-2022

出版信息

页数:20 字数:27 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.020 中标分类号:L05

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院

起草人

杨少华 颜佳辉 薛海红 牛皓 刘昌 王铁羊 吕宏峰 来萍 许少辉 赖灿雄 陈希宇 廖文渊 柳月波

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