【国家标准】表面化学分析深度剖析AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

标号：GB/T 34326-2017 状态：定价：38元/折扣价： 32.3元

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标准简介

本标准规定了在俄歇电子能谱（AES）和X射线光电子能谱（XPS）中使用惰性气体离子以保证溅射深度剖析具有好的深度分辨率以及最佳表面清洁效果而采取的离子束对准方法。这些方法分为两类：一类通过法拉第杯测量离子束流，另一类通过成像方法。法拉第杯方法也规定了离子束束流密度和束流分布的测量。这些方法不包括深度分辨率的优化。这些方法均适用于束斑直径小于1mm的离子枪。

基本信息

标准号：GB/T 34326-2017 标准名称：表面化学分析深度剖析AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 英文名称：Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS 标准状态：发布日期：2025-04-28 实施日期：0 出版语种：中文简体 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) 提出部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) 发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

标准标签： GB/T34326-2017

出版信息

页数：20 字数：30 开本：大16

标准分类号

标准ICS号：71.040.40 中标分类号：G04

起草单位

中国计量科学研究院

起草人

王海王梅玲张艾蕊宋小平

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