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【国家标准】半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

标号:GB/T 35007-2018 状态: 定价:65元/折扣价: 55.25元

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标准简介

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,lowvoltagedifferentialsignaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

基本信息

标准号:GB/T 35007-2018 标准名称:半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法 英文名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 标准状态: 发布日期:2025-05-13 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) 提出部门:中华人民共和国工业和信息化部 发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T35007-2018

出版信息

页数:40 字数:64 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.200 中标分类号:L56

起草单位

成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人

陈雁 罗彬 郭超 王会影 李锟 蔡志刚 邬海忠 钟科

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