标准动态
标准公告
标准知识
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学
张冰 李雷 陈志培 闫辉 朱华 黄德东
上一篇:微波电路噪声源测试方法
下一篇:林业生物质原料分析方法可溶性糖的测定