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【国家标准】半导体集成电路模拟开关测试方法

标号:GB/T 14028-2018 状态: 定价:49元/折扣价: 41.65元

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标准简介

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。

基本信息

标准号:GB/T 14028-2018 标准名称:半导体集成电路模拟开关测试方法 英文名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch 标准状态: 发布日期:2025-05-13 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) 提出部门:中华人民共和国工业和信息化部 发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
标准标签: GB/T14028-2018

出版信息

页数:28 字数:46 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.200 中标分类号:L56

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学

起草人

张冰 李雷 陈志培 闫辉 朱华 黄德东

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