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【团体标准】现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范

标号:T/CIE 150-2022 状态: 定价:24元/折扣价: 20.4元

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标准简介

本文件规定了FPGA芯片时序可靠性测试,包含了硬核IP、接口IP、互联等模块的时序可靠性评估方法。
本文件适用于FPGA的提供者、使用者和第三方评价FPGA芯片的时序可靠性。
注:第三方是指在FPGA芯片交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。

基本信息

标准号:T/CIE 150-2022 标准名称:现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范 英文名称:Timing reliability test specification of field programmable gate array(FPGA) 标准状态: 发布日期:2024-11-10 实施日期:0 出版语种:中文简体 归口单位:中国电子学会可靠性分会 提出部门:中国电子学会可靠性分会 发布部门:中国电子学会
标准标签: T/CIE150-2022

出版信息

页数:12 字数:23 开本:大16

标准分类号

标准ICS号:31.020 中标分类号:L05

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、黄河科技学院、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团第九研究院第772研究所、上海复旦微电子集团股份有限公司

起草人

雷登云 余永涛 杨东 曲晨冰 孙宸 夏益民 王力纬 侯波 来萍 张洋洋 郭海松 刘远 廖步彪 冯成燕 周奇 袁智皓 唐伟东 王文锋 俞剑

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